ANSI INCITS322-2002 信息技术.识别卡耐久性试验方法

作者:标准资料网时间:2024-05-06 08:15:46 浏览:8613 来源:标准资料网

【英文标准名称】:InformationTechnology-CardDurabilityTestMethods
【原文标准名称】:信息技术.识别卡耐久性试验方法
【标准号】:ANSIINCITS322-2002
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:识别卡;数据交换;耐久性;信息技术;纸;试验方法;测试;加工
【英文主题词】:Cards;Dataexchange;Durability;Identificationcards;Informationtechnology;Paper;Testmethods;Testing;Working
【摘要】:ThisAmericanNationalStandarddescribesTestMethodsfortheevaluationofIdentification(ID)carddurability.AnIDcardisdefinedasacardidentifyingitsholderandissuerwhichmaycarrydatarequiredasinputfortheintendeduseofthecard.
【中国标准分类号】:L64
【国际标准分类号】:35_240_15
【页数】:
【正文语种】:英语

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标准名称：	钚铍中子源
中标分类：	能源、核技术 >> 同位素与放射源 >> 放射源
ICS分类：
替代情况：	EJ/T 855-1994
发布日期：
实施日期：
首发日期：
作废日期：
出版日期：
页数：	9